تأثیر التـغذیة المـرتدة الضـوئیة فی خصـائص التضـمین للـیزر شـبه الموصـل من نوع AlGaInP

الملخص أجریت فی هذا البـحث دراسة عملیة عن تأثیر التغذیة المرتدة الضوئیة (O.F) فی ممیزات اللیزر شبه الموصل من نوع AlGaInP وخصائص التضمین للشدة. لوحظ أن تیار العتبة یقل على نحو ملحوظ بتأثیر (O.F) وذلک عندما تکون قیمة (O.F) بمقدار (160 W) إذ انخفض تیار العتبة بمقدار (1mA) فیما لم یسجل نقصان ملحوظ فی تیار العتبة عند زیادة (O.F) عن هذه القیمة ولا عند القیم الأقل. درس تأثیر (O.F) على طیف التضمین للشدة (I.M) عند ترددات التضمین (0.132,0.264,0.546,1.2)MHz . إذ لوحظ أن ذروة طیف التوافقیات الأساسیة تزداد بتأثیر (O.F) وخاصة عند التردد 1.2MHz ، فیما لوحظ التأثیر العکسی للتغذیة الضوئیة المرتدة فی ذروة التوافقیة الأساسیة عند التردد 132kHz إذ انخفضت ذروة التوافقیة الأساسیة. فیما أسهمت التغذیة المرتدة الضوئیة فی التقلیل من ضوضاء الشـدة النسـبیة (RIN) فقط عنـد الترددات (0.264,0.546,1.2 MHz) مع ظهور حالة ضوضاء الخفق (Flicker Noise) عند التردد 132kHz . کما لوحظت الزیادة فی نسبة الإشارة إلى الضوضاء (SNR) ولاسیما عند تردد التضمین(1.2 MHz) نتیجة لوجود (O.F) .