دراسة الخصائص الکهربائیة لجسیمات الفضة النانویة على السلیکون المسامی

یهدف البحث الى تحضیر ودراسة خصائص السلیکون المسامی بطریقة التنمیش الکهروکیمیائی الضوئی باستخدام لشریحة السلیکون نوع n-type ذات مقاومیة کهربائیة (0.01- 0.02 Ω.cm) وذات اتجاهیة (100) وباستخدام بترکیز 20% HFمن حامض الهیدروفلوریک و بکثافة تیار ثابتة 15 mA/cm2 عند زمن تنمیش (5 min) . تم ترسیب دقائق الفضة النانویة (AgNps) باستخدام اللیزر النبضی ذات القدرة العالیة (Pulsed Laser ablation) بطریقة التقطیر (drop casting) باستخدام طاقات مختلفة للیزر النبضی 400,600 and 800mJ)) .بینت نتائج الخصائص الکهربائیة (I-V measurements) لجسیمات الفضة النانویة المرسبة على السلیکون المسامی AgNPs/PSi فی حالتی الاضاءة والظلام. بأنَ جمیع العینات تسلک سلوکاً تقویمیاً (rectifier) وان کثافة التیار تزداد مع زیادة طاقة اللیزر, والسبب یعود فی ذلک الى زیادة ترکیز جسیمات الفضة النانویة التی تؤدی بدورها الى انخفاض فی قیم المقاومیة مع زیادة طاقة اللیزر حیث تملى المسامات بالجسیمات الفضة النانویة وتؤدی الى تداخل طبقة الفضة مع طبقة السلیکون المسامی . وتؤدی الجسیمات الفضة النانویة دورا مهما فی تکوین طبقة متجانسة وتعزز الاستقرار البلوری لطبقة السلیکون المسامی.